 |
TAOYUAN, 30 Agu 2023 — Chroma ATE Inc., penyedia peralatan uji otomatis terkemuka, berpartisipasi dalam SEMICON Taiwan 2023. Perusahaan akan memamerkan serangkaian solusi uji inovatif dengan fokus pada kecerdasan buatan (AI), komputasi kinerja tinggi (HPC), otomotif, dan aplikasi AIoT, dengan tujuan memenuhi kebutuhan pengujian semikonduktor yang terus berkembang.
Chroma ATE Showcases Advanced Test Technology to Propel the AI Revolution at SEMICON Taiwan 2023
Solusi Uji SoC/Analog Lanjutan
Sistem Uji SoC/Analog Chroma 3650-S2 adalah platform uji Power IC kinerja tinggi yang memenuhi kebutuhan Power IC tegangan tinggi, arus tinggi, dan kontrol digital kompleks saat ini. Dilengkapi hingga 768 pin digital I/O dan analog dengan kapasitas catu daya hingga 3000V atau 320A, menampilkan laju data 200Mbps dan akurasi penempatan tepi 300ps (EPA). Ini adalah pilihan ideal untuk menguji IC manajemen baterai lithium (BMS), IC manajemen daya (PMIC), dan IC daya terkait GaN dan SiC.
Sistem Uji SoC Lanjutan Chroma 3680 secara efektif memenuhi kebutuhan pengujian chip bleeding-edge yang digunakan dalam teknologi AI dan otomotif. Sistem ini menyediakan hingga 2048 pin I/O dengan laju data hingga 1Gbps, mendukung hingga 16G memori vektor SCAN, dan menawarkan berbagai modul uji bagi pengguna untuk dipilih. Sistem ini mampu secara simultan melakukan uji logika digital, unit uji parametrik, daya, memori, sinyal campuran, dan komunikasi nirkabel RF.
Solusi Uji Chip RF
Sistem Uji Otomatis Chroma 3680/3380/3300, yang terintegrasi dengan Penguji RFIC Model 35806, menawarkan solusi uji chip frekuensi radio (RF) komprehensif yang telah divalidasi untuk produksi massal oleh pelanggan kami. Solusi yang ditingkatkan ini mendukung berbagai aplikasi termasuk Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT, serta standar komunikasi IoT GPS/BeiDou dan Tuner & PA. Terutama, ini menampilkan modul VSG/VSA bandwidth frekuensi ultra tinggi dengan cakupan mulai dari 300K hingga 6GHz, sehingga cocok untuk spektrum standar komunikasi nirkabel yang sedang berkembang.
Solusi Uji Tri-Temp SLT
Chroma 31000R-L adalah sistem uji Tri-Temp yang dirancang untuk memenuhi persyaratan uji termal paling menuntut. Dengan kemampuan kontrol suhu yang stabil mulai dari -40°C hingga +150°C dan kapasitas pendinginan DUT (Perangkat Diuji) hingga 1.800W, sistem ini adalah pilihan ideal sebagai solusi uji IC Tri-Temp kelas atas.
Chroma 31000R-L dapat dipasangkan dengan mulus dengan model Chroma seperti 3210, 3110, 3260, dan 3200, menyediakan solusi uji Tri-Temp SLT (Sistem Level Test) yang komprehensif yang cocok untuk lingkungan lab dan fab. Solusi uji Tri-Temp Chroma melayani berbagai aplikasi IC canggih dan high-end, termasuk Otomotif, AI & Pusat Data, GPU, APU, HPC, Dirgantara, dan Pertahanan. Dirancang untuk memastikan IC berfungsi dengan sempurna dalam lingkungan yang keras, ini adalah pilihan optimal untuk pengujian keandalan produk.
Pengawal Kualitas Isolasi untuk Perangkat Semikonduktor Daya
Perangkat semikonduktor daya (misalnya, IGBT, SiC-MOSFET) digunakan di berbagai bidang yang cenderung menggunakan daya/arus besar untuk sirkuit konversi/kontrol daya, dan isolator (misalnya, optocoupler, isolator digital) digunakan di lingkungan di mana perbedaan tegangan antara dua sisi (yaitu sisi primer dan sekunder) perlu diisolasi. Karena perbedaan tegangan atau potensial yang lebih tinggi muncul di komponen ini, sangat penting untuk memastikan bahwa komponen ini dapat mempertahankan isolasi tegangan yang baik dalam kondisi operasi normal dan tidak ada pelepasan parsial (PD) kontinu yang dapat menyebabkan degradasi isolasi. Penguji Pelepasan Parsial Seri 19501 Chroma mematuhi persyaratan pengukuran PD IEC 60270-1, dan metode uji yang ditentukan dalam peraturan telah dirancang ke dalam instrumen. Ini dapat menyediakan uji Hipot AC (maks. 10kVac) dan pengukuran pelepasan parsial (maks. 6000pC), yang dapat secara efektif memastikan kualitas dan keandalan operasi jangka panjang untuk perangkat semikonduktor daya dan isolator.
Solusi Uji Kemasan Lanjutan
Untuk proses kemasan lanjutan, Chroma telah mengembangkan peralatan inspeksi optik tanpa kontak menggunakan teknologi paten. Chroma 7961 AOI in situ membantu pelanggan mendeteksi cacat selama proses manufaktur, memungkinkan analisis dan kontrol kualitas produksi secara real time. Sistem Metrologi Wafer 2D/3D Chroma 7980, yang menampilkan teknologi BLiS paten kami, menyediakan pengukuran dimensi kritis (CD) 2D/3D skala nano. Dengan perangkat keras dan perangkat lunak yang dioptimalkan untuk aplikasi spesifik, Chroma 7980 telah digunakan dalam berbagai aplikasi metrologi CD 2D/3D untuk proses kemasan lanjutan seperti TSV dan RDL.
Sistem pemantauan nanopartikel untuk bahan semikonduktor
Seiring meningkatnya tuntutan kualitas untuk bahan semikonduktor, inspeksi dan pemantauan bahan menjadi semakin kritis. Sistem Pemantauan Nanopartikel In-line SuperSizer berhasil mengidentifikasi nanopartikel dan ketidakmurnian bahan kimia cair yang mempengaruhi hasil produksi, membantu insinyur pemrosesan untuk “melihat” partikel ultrahalus dalam node teknologi di bawah 20 nanometer (nm). Proses pengukuran sama sekali tidak terganggu oleh nanobubble dan secara akurat mengukur ukuran dan distribusi kuantitas partikel sekecil 3 nm, memungkinkan pengguna mengendalikan risiko dan memahami hasil secara penuh.
Di SEMICON Taiwan 2023 (6-8 September), Chroma akan dengan bangga memamerkan berbagai solusi uji di Booth K2776, Taipei Nangang Exhibition Center, Hall 1, Lantai 1. Kami juga dengan gembira berpartisipasi dalam Semiconductor Advanced Inspection and Metrology Forum, di mana kami akan membahas solusi metrologi inovatif untuk inspeksi proses dalam kemasan semikonduktor lanjutan. Bergabunglah dengan kami dalam mengeksplorasi tren uji dan pengukuran terbaru, kami tidak sabar bertemu dengan Anda!